吉時利發布半導體測試軟件的升級KTE 5.3

吉時利發布半導體測試軟件的升級版KTE 5.3

 美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進電氣測試儀器與系統的領導吉時利儀器公司發布了獲得業界好評的吉時利測試環境（KTE）半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利迄今為止快、經濟有效的過程控制監控方案產品線S530參數測試系統設計的。

KTE是一款*的測試開發和運行軟件平臺，有數百家半導體晶圓廠都在使用吉時利前幾代的參數測試系統。現在，吉時利的S530測試系統利用這個被業界長期驗證的軟件平臺在苛刻的生產環境中實現了靈活的測試計劃開發和高速測試。現有吉時利S400和S600系列參數測試儀用戶將特別受益于S530系統上的KTE V5.3，因為可以將既有測量程序輕松地移植到S530，而且現有測試儀和新的S530系統可以共享同一個測試計劃。

將KTE測試開發和運行環境擴展至S530系統結合了吉時利30年的參數測試代碼開發實踐經驗和市場上快進的系統硬件優勢。S530儀器提供過程控制監控等參數測試應用要求的高速度和寬測量范圍。

吉時利致力于讓新測試系統高度兼容較早的系統支持吉時利參數測試客戶。保持軟件兼容性的承諾確保了移植路徑更為平滑并能在測試平臺上加入更新、更高速測試儀以保護晶圓廠的測試軟件投資。對于吉時利參數測試的新客戶，恪守系統軟件連續性的承諾意味著客戶會對基于業界長期驗證軟件的測試系統充滿信心。



對于已經使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速并簡化了S530測試系統到測試平臺的集成。

• 同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時利自動參數測試系統，這不僅縮短了使用多個系統的測試工程師和操作人員的學習過程，而且在測試平臺增加新的高速系統或取代較早平臺時提供平滑的移植路徑以保護晶圓廠的測試開發投入。

• 用戶只需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時利系統開發的常用用戶庫，就能繼續在S530上使用這些用戶庫。通常，只需進行少量調試。

• KTE V5.3簡化了創建條件測試序列的新用戶訪問點（UAP）源代碼以及定制S530的系統工作流程。為早期吉時利系統開發的UAP源代碼適用于S530系統，只需作少量調整。

• KTE的工具對吉時利所有參數測試平臺都具有*相同的功能性。

面向S530的KTE適于在標準工業PC的Linux操作系統上運行以確保長期穩定性和易于維護性。該軟件已針對高吞吐率生產測試環境作了速度和擴展可靠性的優化。運行KTE V5.3的S530系統能實現過程控制監控、過程可靠性監控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統針對必須適應廣泛產品組合的生產參數測試環境，或者在寬范圍應用靈活性和快速測試方案開發等至關重要的場合中的使用進行了優化。